MEB FEG TESCAN CLARA / dual EDS :

Imagerie très haute résolution (résol. de 0,9 nm à 15kV), 5 détecteurs accessibles.  Observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés possible grâce au mode pression variable (azote de 7 à 500 Pa). Équipé de 2 spectromètres de rayons X en dispersion d'énergie de 30 mm² (dual EDS) pour une analyse élémentaire rapide du bore aux actinides (résolution de 133eV). Cartographie chimique hyperspectrale (1 spectre/pixel), module d'assemblage automatique d'images SE/BSE/cartographies de rayons X sur des surfaces de plusieurs cm². Année d'achat 2021.

MEB Hitachi SU3500 :

grossissements en routine de 10 000 à 50 000, et sous certaines conditions jusqu’à 150 000. Observations à haute résolution d'échantillons non déshydratés, non métallisés ; Imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons X EDS (Energy Dispersive Spectrum XRay), avec cartographies spectrales élément par élément ; Détecteur STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) (année d’achat 2012).

Observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et Imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons EDX. Observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés (Pression variable)

MEB TESCAN VEGAII LSU :

résolution de 30nm à 30kV, pression variable sous azote de 5 à 500 Pa permettant l'observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés. Équipé d'un spectromètre de rayons X en dispersion d'énergie pour une analyse élémentaire du bore aux actinides (résolution de 133eV). Cartographie chimique hyperspectrale, module d'assemblage automatique d'images SE/BSE/cartes X (année d'achat 2007).

Observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et imagerie chimique élémentaire par spectrométrie de rayons EDX. Module d’acquisition de mosaïques d’images électroniques et/ou chimiques. Observation d'échantillons non conducteurs et non métallisés (Pression variable)

MEB Zeiss Sigma300 :

(technologie FEG) avec fonctions SE1 (secondary emission InLens), SE2 (secondary emission) & STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy),

MEB Jeol 840A :

grossissement en routine de 30 000. Observations d'échantillons déshydratés et métallisés (année d’achat 1986).

Observation topographique

MET Hitachi H7700 :

avec fonctions STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) ; Tomography ; EDS (Energy Dispersive Spectrum XRay) (mise en service fin 2014).

MET Hitachi H7100 :

avec système caméra CCD HAMAMATSU (année d’achat 1998)

Matériels de préparation à Paris : 

point critique (Leica EM CPD 300, 2020), métalliseur-évaporateur (LEICA ACE 600, 2017) , ultra-microtomes (trois de marque Reichert-Yung et un de marque PTXL RMC boeckeler,2019), microscopes photoniques, …

Matériels de préparation à Concarneau : 

point critique (Quorum EMS 850), métalliseur-évaporateur (Cressington 108 auto)