Liste des équipements de la Plateforme de Microscopie Électronique (PtME)

Liste des équipements

La plateforme est répartie sur 4 sites :

  • JDP-MEB : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 50 Ancienne Entomologie au 45 rue Buffon

    • MEB environnemental Hitachi SU3500 : observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et imagerie chimique élémentaire par spectrométrie EDX. Observation d’échantillons non conducteurs et non métallisés (pression variable)

    • Matériels de préparation : point critique (Leica EM CPD 300, 2020), métalliseur-évaporateur (LEICA ACE 600, 2017), stéréomicroscope (LEICA M80, 2024)

  • JDP-MEBFEG : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 52 Minéralogie au 61 rue Buffon 

    • MEB environnemental à effet de champ TESCAN CLARA imagerie topographique, et en contraste chimique haute résolution. Micro-analyse et cartographie chimique élémentaires par spectrométrie de rayons X (dual-EDS). Module d’acquisition de mosaïques d’images électroniques et/ou chimiques. Observation d’échantillons non conducteurs et non métallisés (pression variable)

  • JDP-MET : Service de Microscopie électronique en transmission sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 39 Grand Herbier au 16 rue Buffon

    • MET Hitachi H7700, avec fonction STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy), Tomography ; EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) et SAED (Selected Area Electron Diffraction)

    • Salle de préparation d’échantillons : Ultramicrotome RMC PowerTome XL, avec découpe automatique de 5nm à 1µm ; 1 ultramicrotome Reichert-Jung ; Etuve sous vide Dutscher ; 2 hottes chimiques

  • CONC-MEBFEG : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site de la station Marine de Concarneau

    • MEB Zeiss Sigma300, (technologie FEG) avec fonctions SE1 (secondary emission InLens), SE2 (secondary emission) & STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy), 

Matériels de préparation : point critique (Quorum EMS 850), métalliseur-évaporateur (Cressington 108 auto)

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MEB Hitachi SU3500 © Charlotte Duval

MEB Hitachi SU3500 © Charlotte Duval

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MET Hitachi H7700 © Charlotte Duval

MET Hitachi H7700 © Charlotte Duval

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Publié le : 12/03/2026 14:13 - Mis à jour le : 12/03/2026 14:30