Liste des équipements de la Plateforme de Microscopie Électronique (PtME)
La plateforme est répartie sur 4 sites :
JDP-MEB : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 50 Ancienne Entomologie au 45 rue Buffon
MEB environnemental Hitachi SU3500 : observation topographique (technologie tungstène), contraste chimique et imagerie chimique élémentaire par spectrométrie EDX. Observation d’échantillons non conducteurs et non métallisés (pression variable)
Matériels de préparation : point critique (Leica EM CPD 300, 2020), métalliseur-évaporateur (LEICA ACE 600, 2017), stéréomicroscope (LEICA M80, 2024)
JDP-MEBFEG : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 52 Minéralogie au 61 rue Buffon
MEB environnemental à effet de champ TESCAN CLARA imagerie topographique, et en contraste chimique haute résolution. Micro-analyse et cartographie chimique élémentaires par spectrométrie de rayons X (dual-EDS). Module d’acquisition de mosaïques d’images électroniques et/ou chimiques. Observation d’échantillons non conducteurs et non métallisés (pression variable)
JDP-MET : Service de Microscopie électronique en transmission sur le site du Jardin des plantes, au Bâtiment 39 Grand Herbier au 16 rue Buffon
MET Hitachi H7700, avec fonction STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy), Tomography ; EDX (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) et SAED (Selected Area Electron Diffraction)
Salle de préparation d’échantillons : Ultramicrotome RMC PowerTome XL, avec découpe automatique de 5nm à 1µm ; 1 ultramicrotome Reichert-Jung ; Etuve sous vide Dutscher ; 2 hottes chimiques
CONC-MEBFEG : Service de Microscopie électronique à balayage sur le site de la station Marine de Concarneau
MEB Zeiss Sigma300, (technologie FEG) avec fonctions SE1 (secondary emission InLens), SE2 (secondary emission) & STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy),
Matériels de préparation : point critique (Quorum EMS 850), métalliseur-évaporateur (Cressington 108 auto)
MEB Hitachi SU3500 © Charlotte Duval
MET Hitachi H7700 © Charlotte Duval